数ブラウズ：0 著者：サイトエディタ 公開された： 2022-02-28 起源：パワード
走査型電子顕微鏡または電子プローブを使用して、コーティングクラック、コーティング成分の定性的な決定、全電極表面上のコーティング中の各成分要素の分布、および分布が均一であるかどうかの表面形態を観察することができる。走査型電子顕微鏡は一般にドイツLEO - 1530走査電子顕微鏡を選択することができ、Philips Company XL30FEG走査型電子顕微鏡、HT - Tachi Company X線走査型電子顕微鏡、オランダPhilips Company XL30 ESEM環境走査電子顕微鏡JEOL会社JSM- 6700FタイプエミッションSEM、日本JSM-T300 SEM、日本日立S-507 SEM、北京科学機器工場KY2-1000B SEM、日本エレクトロニクス株式会社JEOLJSM-6700 SEMおよびケンブリッジS-360 SEM。
電子プローブは一般に島津EPMA-8705 / QH2電子プローブ機器、JXA-840A電子プローブマイクロアナライザー、JCXA-733電子プローブおよび日本JSM-6700F電子プローブ機器を選択することができます。
活性コーティング中の各成分要素は、電子顕微鏡、電子プローブまたは粉末X線回折計によって定性的に決定することができる。
エネルギー分散分光計と結合した走査型電子顕微鏡または電子プローブは、活性コーティング中の成分元素の含有量を定量的に決定することができる。
粉末X線回折計は、一般にシマジュXRD - 6000粉末X線回折計を使用することができる。
活性コーティングのプロファイル分析
走査型電子顕微鏡または電子プローブを使用して、コーティングの断面を観察し、コーティングの厚さを測定し、断面に沿った各成分元素の分布を観察するために使用することができる。
活性コーティングナノ結晶の解析
走査型電子顕微鏡、走査型トンネル顕微鏡および透過型電子顕微鏡を使用して、活性コーティング酸化物成分の粒径を観察することができる。一般的に、日本JEM-1010透過型電子顕微鏡とJEM-200CX透過型電子顕微鏡を用いることができる。
X線回折構造解析（XRD）
X線回折計は、TiO 2などのコーティング材料の相組成を正しく分析することができ、それがTiO 2（R）として分析される場合、それはルチルTiO 2である。それがTiO 2（A）として分析される場合、それは不安定な相であるアナターゼTiO 2である。 。
分析はTiO 2（R）およびRuO 2固溶体、すなわちコーティング中のTiO 2相およびRuO 2相が一体化される。
X線回折分析は、ルテニウム - チタンコーティング中にRuO 2およびTiO 2（R）が存在することを示す。固溶体の場合、RuO 2の固溶体限界は約50％であり、一方TiO 2のそれは約20％である。
X線回折線の特徴的なピークに応じて、塗布中の酸化物成分を判断することができ、酸化物成分の量を定性的に判断することができる。
X線回折分析は、電極の新しいコーティングおよび電極の故障後のコーティング上で行われる。構成要素の故障前後の特徴ピーク強度の変化に応じて、電極の故障の原因を判断することができる。一般に、日本のMac Science CompanyのMO3XHF22 X線回折計、Brukeraxs CompanyからのD8005 X線回折計、ドイツのBruker CompanyからのD8-Discover X線回折計、島津製作所のXD-3A X線回折計、D8A DVANCE X線回折計を使用することができる。 X線回折計、Rigaku RAX-10 X線回折計、Panalytical X'pert回転ターゲットX線粉末回折計、島津XRD-6000粉末X線回折計、リガク株式会社D / MAX。 RCタイプX線回折計、Philips PW1700 X線回折計、Rigaku Corporation 4053 A3 X線回折計など
光電子分光法（XPS）
光電子分光法は、固体材料の表面内に1~10原子層、その上にある他の原子、分子およびイオンの表面情報を反映する材料の表面情報を検討する方法である。電極プロセス生成物はX線光電子分光法により検出することができ、材料の表面状態を分析することができ、そしてTiO 2、Ti 2 O 3、TiOなどの電極表面コーティングの組成および元素原子価状態を分析することができる。一般的に、英国VG社からのEscalabmký型電子分光計、英国VG社からのEscalab MK +光電子分光計、Kratos CompanyからのXSAM800型X線光電子分光計を使用することができます。
ラマン散乱スペクトル分析
コーティングの結晶化状態は、ラマン散乱分光法により分析することができる。一般的に、英国のRenishawからのRM100共焦点ラマン分光計を使用することができます。
蛍光X線分析（XRF）
蛍光X線分析を使用して、コーティング中の様々な酸化物の接着性を決定することができる。一般的に、Philips PW2400 XPF分光計を使用することができます。
熱重量分析（TG）
熱重量分析（TG）およびX線回折と組み合わせた差動熱分析（DTA）は、コーティング中の酸化物の熱分解形成プロセスを分析することができる。一般に、Perkinelmer1700微分熱熱重量分析装置およびDU PONT 1090B熱分析器を使用することができる。
示差熱分析はコーティングの位相を決定することができる。一般に、米国のPH会社からの1700の差動熱分析器を使用することができる。
コーティング中のルテニウム含有量の決定
クロルアルカリ産業に使用されるチタン電極の場合、活性コーティングは主にルテニウムである。
コーティング中のルテニウム含有量を決定する方法としては、蛍光X線分析、電子プローブ法、原子吸光光化計測、72gまたは721分光光度法などが挙げられる。
最初の2つの方法の特徴は高速かつ非破壊的であるが、電極コーティングプロセス自体の不均一性および狭い分析点の誤りにより、試験結果の誤差が大きい。後者の2つは破壊的であり、ルテニウム含有コーティングはアルカリ融合によって分析試料から剥離され、そして分光光度分析のために溶液が調製される。分光光度測定は、高感度、正確で信頼できる結果、そして良好な再現性を有するが、不利な点はそれが時間がかかることである。
